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    12(2)調(diào)節(jié)可變電阻R.多次改變電流并撥動K.得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù).見右表.由此可得.螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=________.為了減小實驗誤差.提高測量的準確性.可采取的措施有(A)適當增加試測線圈的匝數(shù)N(B)適當增大試測線圈的橫截面積S(C)適當增大可變電阻R的阻值(D)適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt 查看更多

     

    題目列表(包括答案和解析)

    精英家教網(wǎng)如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置.將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻.將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連.撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn).
    (1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ,Dφ=
    dm
    N△?
    ,式中△?為單匝試測線圈磁通量的變化量.則試測線圈所在處磁感應強度B=
     
    ;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為△t,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=
     

    (2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表.由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=
     

    實驗次數(shù) I(A) B(×10-3T)
    1 0.5 0.62
    2 1.0 1.25
    3 1.5 1.88
    4 2.0 2.51
    5 2.5 3.12
    (3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有
    (A)適當增加試測線圈的匝數(shù)N
    (B)適當增大試測線圈的橫截面積S
    (C)適當增大可變電阻R的阻值
    (D)適當撥長撥動開關(guān)的時間△t.

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    如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn)。

    (1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為DφDφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B            ;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε            。

    (2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B                      

    實驗次數(shù)

    I(A)

    B(×103T)

    1

    0.5

    0.62

    2

    1.0

    1.25

    3

    1.5

    1.88

    4

    2.0

    2.51

    5

    2.5

    3.12

    (3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有

    (A)適當增加試測線圈的匝數(shù)N

    (B)適當增大試測線圈的橫截面積S

    (C)適當增大可變電阻R的阻值

    (D)適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt

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    如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn)。

    (1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B=______;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=____。

    (2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=______。

    (3)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(  。

    A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N  B.適當增大試測線圈的橫截面積S

    C.適當增大可變電阻R的阻值  D.適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt

     

    實驗次數(shù)

    I(A)

    B(×103T)

    1

    0.5

    0.62

    2

    1.0

    1.25

    3

    1.5

    1.88

    4

    2.0

    2.51

    5

    2.5

    3.12

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     如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn)。

    (1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ, Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B=______;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε=____。

    (2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B=______。

    (3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有(  。

    A.適當增加試測線圈的匝數(shù)N  B.適當增大試測線圈的橫截面積S

    實驗次數(shù)

    I(A)

    B(×10-3T)

    1

    0.5

    0.62

    2

    1.0

    1.25

    3

    1.5

    1.88

    4

    2.0

    2.51

    5

    2.5

    3.12

    C.適當增大可變電阻R的阻值  D.適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

     

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    (10分)如圖所示是測量通電螺線管A內(nèi)部磁感應強度B及其與電流I關(guān)系的實驗裝置。將截面積為S、匝數(shù)為N的小試測線圈P置于螺線管A中間,試測線圈平面與螺線管的軸線垂直,可認為穿過該試測線圈的磁場均勻。將試測線圈引線的兩端與沖擊電流計D相連。撥動雙刀雙擲換向開關(guān)K,改變通入螺線管的電流方向,而不改變電流大小,在P中產(chǎn)生的感應電流引起D的指針偏轉(zhuǎn)。

    (1)將開關(guān)合到位置1,待螺線管A中的電流穩(wěn)定后,再將K從位置1撥到位置2,測得D的最大偏轉(zhuǎn)距離為dm,已知沖擊電流計的磁通靈敏度為Dφ,Dφ,式中為單匝試測線圈磁通量的變化量。則試測線圈所在處磁感應強度B           ;若將K從位置1撥到位置2的過程所用的時間為Δt,則試測線圈P中產(chǎn)生的平均感應電動勢ε           。
    (2)調(diào)節(jié)可變電阻R,多次改變電流并撥動K,得到A中電流I和磁感應強度B的數(shù)據(jù),見右表。由此可得,螺線管A內(nèi)部在感應強度B和電流I的關(guān)系為B                      。

    實驗次數(shù)
    I(A)
    B(×103T)
    1
    0.5
    0.62
    2
    1.0
    1.25
    3
    1.5
    1.88
    4
    2.0
    2.51
    5
    2.5
    3.12
     
    (3)(多選題)為了減小實驗誤差,提高測量的準確性,可采取的措施有
    (A)適當增加試測線圈的匝數(shù)N
    (B)適當增大試測線圈的橫截面積S
    (C)適當增大可變電阻R的阻值
    (D)適當撥長撥動開關(guān)的時間Δt

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